Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach - Softcover

Lall, Pradeep; Pecht, Michael; Hakim, Edward B.

9780367400972: Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach
Softcover
ISBN 10: 0367400979 ISBN 13: 9780367400972
Verlag: CRC Press, 2019
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  • VerlagCRC Press
  • Erscheinungsdatum2019
  • ISBN 10 0367400979
  • ISBN 13 9780367400972
  • EinbandTapa blanda
  • Auflage1
  • Anzahl der Seiten336

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Verlag: CRC Press, 1997
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Lall, Pradeep
ISBN 10: 0367400979 ISBN 13: 9780367400972
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Anbieter:
Blackwell's
(London, Vereinigtes Königreich)
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Buchbeschreibung paperback. Zustand: New. Language: ENG. Artikel-Nr. 9780367400972

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