Advances in X-Ray Analysis: Volume 35B: v. 35 - Hardcover
Zu dieser ISBN ist aktuell kein Angebot verfügbar.
Alle Exemplare der Ausgabe mit dieser ISBN anzeigen:
Advances In X-Ray Analysis by Barrett C.S Et.Al, 9780306442490 , Springer
Die Inhaltsangabe kann sich auf eine andere Ausgabe dieses Titels beziehen.
Reseña del editor:
The proceedings of the combined First Pacific-International Congress on X-Ray Analytical Methods (PICXAM) and Fortieth Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis, held in Hilo and Honolulu Hawaii, August 1991, comprise reports on the latest developments in international research on X-ray fl
„Über diesen Titel“ kann sich auf eine andere Ausgabe dieses Titels beziehen.
- VerlagSpringer
- Erscheinungsdatum1992
- ISBN 10 0306442493
- ISBN 13 9780306442490
- EinbandTapa dura
- Anzahl der Seiten648
- HerausgeberBarrett C.S., Gilfrich John V., Huang Ting C.
Neu kaufen
Mehr zu diesem Angebot erfahren
EUR 117,91
Versand:
EUR 48,99
Von Deutschland nach USA
Beste Suchergebnisse beim ZVAB
Foto des Verkäufers
Advances in X-Ray Analysis
Verlag:
Springer, Berlin
(1992)
ISBN 10: 0306442493
ISBN 13: 9780306442490
Neu
Hardcover
Anzahl: > 20
Anbieter:
Bewertung
Buchbeschreibung Gebunden. Zustand: New. Whole Pattern Fitting, Rietveld Analysis, and Calculated Diffraction Patterns. Quantitative Phase Analysis by XRay Diffraction (XRD). Thin Film and Surface Characterization by XRD. Lattice Defects and XRay Topography. Texture Analysis by XRD. XRD Instrument. Artikel-Nr. 897687730
Weitere Informationen zu diesem Verkäufer | Verkäufer kontaktieren
Neu kaufen
EUR 117,91
Währung umrechnen